光柵同軸線光源應用案例
原理：
使用新型光學元件，配合同軸線光源可對光滑表面進行凹凸檢測。光源上配有光柵元件，當檢測到凹凸點時，條紋的成像就會發生變形，此變形的位置即為凹凸點的位置。
產品特點：
★透光性高, 均勻性好
★設計配合同軸線光
★特殊光學設計，成像效果良好
行業應用：
★光滑表面凹凸、劃傷、黑點等缺陷檢測
應用案例：
1.反光膜曲面、凹凸點檢測
樣品圖1
效果圖1
2.手機偏光膜曲面、凹凸點檢測
樣品圖2
效果圖2
說明：對于光滑表面的凹凸點，通過判斷條紋的彎曲很容易找出缺陷位置，放大缺陷。線陣檢測面積大，可根據樣品的大小選擇相對大的光源來滿足視野的，均勻性相對面陣更有優勢。
3.偏光膜輕微劃傷等缺陷檢測
樣品圖3
效果圖3
說明：對于光滑表面的輕微劃傷點，常規的光源檢測很難看到缺陷，通過光柵同軸光源后，缺陷部分呈現出柵格雜亂，凸顯出缺陷，有利于機器視覺識別。
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